

COF 정밀 치수검사 시스템
디스플레이 구동 IC용 COF 필름과 패키지의 입출력 리드 치수를 측정합니다. 릴 단위 이송과 광학검사, 측정 데이터 분석을 연결합니다.
DEVELOPMENT SCOPE
- 고해상도 라인 스캔 기반 전수검사
- 패턴 티칭·검사 설정 프로파일 관리
- 온습도와 측정 데이터의 상관관계 분석
35mm·48mm 폭 제품을 대상으로 지그 압착으로 시료를 평탄화하고 투과 영상을 취득합니다. 2024년 장비 소개서는 제품·시험 조건에 따른 반복측정 표준편차 0.15–0.5μm와 KTL 시험 검증을 제시합니다. 해당 시험 조건의 결과로, 모든 환경에서의 보증값은 아닙니다. 자료에는 PROCO와 Wavepoint Digital의 참여가 함께 표기되어 있습니다.





